PHL应力双折射测量仪WPA-200-MT

 WPA-200-XL简介：  
WPA-200-XL系列是Photonic lattic公司以其良好世界的光子晶体制造技术开发的产品，*特的测量技术，高速而又精确的测量能力使其成为**的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的万用机器，较适合用来测量光学薄膜或透明树脂,量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。

 
WPA-200-XL主要特点：
操作简单，测量速度可以快到3秒。 
采用ＣＣＤ Camera，视野范围内可一次测量，测量范围广。
测量数据是二维分布图像，可以更直观的读取数据。
具有多种分析功能和测量结果的比较。
维护简单，不含旋转光学滤片的机构。


WPA-200-XL主要应用:
光学零件（镜片、薄膜、导光板）
透明成型品（车载透明零件、食用品容器）
高分子材料（PET PVA COP ACRYL PC COC PMMA）
透明基板（玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石）
  
 
技术参数:

项次      项目                    具体参数

1.       输出项目               相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】


2.      测量波长                 520nm、543nm、575nm


3.      双折射测量范围       0-3500nm


4.      测量较小分辨率         0.001nm


5.      测量重复精度            <1nm（西格玛）


6.       视野尺寸                   218x290mm-360×480mm（标准）


7.      选配镜头视野            无选配


8.      选配功能                   实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制，CD模式