应力双折射测量仪PA-300-MT

      PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其**技术的光子晶体偏光阵列片，*有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。


主要特点：
操作简单，测量速度可以快到3秒；
视野范围内可一次测量，测量范围广；
更直观的全面读取数据，无遗漏数据点；
具有多种分析功能和测量结果的比较；
维护简单，不含旋转光学滤片的机构;
高达2056x2464像素的偏振相机。


应用领域：
小尺寸
光学镜头


主要技术参数： 
项次	           项目                 	  具体参数
1	          输出项目	          相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】

2	          测量波长	          520nm

3	          双折射测量范围	  0-130nm

4	          测量小分辨率	  0.001nm
  
5	          测量重复精度           <1nm（西格玛）

6	          视野尺寸                  17.5x21mm到33x40mm（标准）

7	          选配镜头视野          6.3x7.5mm

8	         选配功能    	        实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制