应力双折射测量系统PA-300-XL

      PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片，*有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。


主要特点：
操作简单，测量速度可以快到3秒。
视野范围内可一次测量，测量范围广。
更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。
具有多种分析功能和测量结果的比较。
维护简单，不含旋转光学滤片的机构。
高达2056x2464像素的偏振相机。


应用领域：
光学镜片
智能手机玻璃基板
A4纸尺寸的样品



技术参数： 
项次	           项目            	     具体参数
1 	          输出项目 	     相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】
2	          测量波长	      520nm
3	          双折射测量范围	0-130nm
4	          测量小分辨率	0.001nm
5	          测量重复精度	        <1nm（西格玛）
6	          视野尺寸	       40x48mm到240x320mm（标准）
7                选配镜头视野	      不适用
8	          选配功能    	      实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制