残余应力双折射测量仪 WPA-NIR

      硫系，红外树脂等材料对可见光不透过，这样的样品残余应力评估很难实现，为此Photonic Lattece 专门研制了WPA-NIR双折射测量仪，采用850nm或940nm波长，能高速的测量和分析近红外材料的双折射/残余应力分布，安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View，可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据可搭配流水线对应的『外部控制选配』，也可应用于量产现场
主要特点：

红外波长的双折射/相位差面分布测量 
硫系、红外透明树脂等的光学畸变评估 
小型、简単操作、高速测量
WPA-NIR能高速的测量/分析波长为850nm或940nm的双折射分布
安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View
可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据
可搭配流水线对应的『外部控制选配』，也可应用于量产现场
 
主要功能：
高速测量面的双折射/相位差分布  
NIR波长仅需操作鼠标数秒内就能获取高密度的双折射/相位差信息
测量数据的保存/读取简单快捷
全部的测量结果都可以做保存/读取，易于跟过去的测量结果做比较等
丰富的图形创建功能 
可以自由制作线图形和直方图
测量结果可以在一个图形上做比较，也可以用CSV格式输出