PHL相位差测量系统wpa-200

 简介： 
      WPA系列可测量相位差高达3500nm，适合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其良好世界的光子晶体制造技术开发的产品，*特的测量技术，高速而又的测量能力使其成为**的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。WPA-200型更是市场上的**机器，适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。


 主要特点:

操作简单，测量速度可以快到3秒。
采用ＣＣＤ Camera，视野范围内可一次测量，测量范围广。
测量数据是二维分布图像，可以更直观的读取数据。
具有多种分析功能和测量结果的比较。
维护简单，不含旋转光学滤片的机构。
市场占有率高的残余应力测量设备。

 主要应用： 

· 光学零件（镜片、薄膜、导光板）

· 透明成型品（车载透明零件、食用品容器）

· 透明树脂材料

· 透明基板（玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石）

· **材料（球晶、FishEve）