? 操作简单/快速测定:*特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布
? 2D数据的多方面分析功能:二维数据的强大分析功能,能够直观解释被测样品的特性。
? 大相位差测试能力(WPA系列):通过对三组不同波长的测量数据进行计算,WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。
针对相位差差别比较小的样品,要求测量速度高的应用,专门开发了PA系列的产品,测量速度快是核心。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。
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主要经营应力双折射系统测量光学组件应力分布测量,也可用作诸如玻璃面板,透镜,光纤,纤维,晶体,薄膜、注塑成品等工业生产中检测产品应力分布。该应力双折射测量系统测量整个样品数秒内给出结果,产品软件直观显示待测样品应力情况。半导体激光器,固体激光器,激光共聚焦显微镜,内径面干涉测量仪。。
单位注册资金单位注册资金人民币 500 - 1000 万元。
我们公司主要供应应力双折射仪,内应力测量仪,无掩膜光刻机等产品,我们的产品货真价实,性能可靠,欢迎电话咨询!